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用來檢查量塊或者其它具有同等級(jí)精度平面的測(cè)試件的平面度和研合性。
TESA 單色光單元
為了與光學(xué)單面平晶和光學(xué)雙面平晶配合使用，通過干涉法檢測(cè)測(cè)量面的平面度和平行度。
單色光源可提供高對(duì)比度的干涉條紋。該光源波長(zhǎng)單一，這樣僅亮光條紋可見。
光源在測(cè)量面后邊的情況下，如借助刀口平心尺或刀口尺也可肉眼進(jìn)行檢查。
TESA 量塊：m.bemk0.cn
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